2016考研復(fù)試工作全面開(kāi)展，考生都在忙著準(zhǔn)備復(fù)試或調(diào)劑，比網(wǎng)校在線提醒考生注意關(guān)注院校發(fā)布信息，按照復(fù)試要求及安排進(jìn)行準(zhǔn)備。下面是上海理工大學(xué)發(fā)布的材料科學(xué)與工程學(xué)院《材料分析方法》考研大綱，要考此科目的考生注意按要求復(fù)習(xí)。

2016上海理工大學(xué)《材料分析方法》考研復(fù)試大綱

　　一、參考書(shū)目:

　　王培銘、許乾慰主編“材料研究方法”(第三版)，科學(xué)出版社

　　二、基本要求

　　1. 掌握各種材料表征設(shè)備的理論基礎(chǔ)、樣品處理方法、數(shù)據(jù)處理方法。

　　2. 掌握晶體學(xué)基礎(chǔ)知識(shí)，理解X 光、電子束與晶體相互作用機(jī)制。

　　3. 掌握材料結(jié)構(gòu)、形貌、成分分析的基本方法，掌握各種測(cè)試方法的應(yīng)用范圍及優(yōu)勢(shì)。

　　4. 能綜合運(yùn)用各種分析方法研究材料的結(jié)構(gòu)及物理、化學(xué)性質(zhì)，解決材料研究中的常見(jiàn)案例。

　　三、主要知識(shí)點(diǎn)

　　第一章 晶體學(xué)基礎(chǔ)知識(shí)：晶體幾何學(xué)基礎(chǔ);空間點(diǎn)陣;倒易點(diǎn)陣及其在幾何學(xué)中的應(yīng)用。

　　第二章 X 射線衍射：X射線的產(chǎn)生及特性;X射線與物質(zhì)相互作用機(jī)制;布拉格方程及衍射方法;X射線衍射儀的基本結(jié)構(gòu)及工作原理;粉末衍射定性分析;應(yīng)力分析;謝樂(lè)公式;X射線衍射的應(yīng)用;X射線衍射譜的標(biāo)定及數(shù)據(jù)分析;物相分析的一般方法。

　　第三章 電子顯微學(xué)：光學(xué)顯微鏡與透射電鏡的異同;電子與物質(zhì)的相互作用;掃描電鏡和透射電鏡基本工作原理、儀器構(gòu)造、樣品制備方法及應(yīng)用范圍; 透射電鏡成像方法、明場(chǎng)像、暗場(chǎng)像;電子衍射原理、基本衍射公式、電子衍射花樣及標(biāo)定方法。

　　第四章 原子力顯微鏡：原子力顯微鏡工作原理、儀器構(gòu)造及應(yīng)用范圍;原子力顯微鏡工作模式。

　　第五章 熱分析方法：差熱分析、熱重分析儀的工作原理及在材料研究中的應(yīng)用;熱重曲線、差熱曲線的數(shù)據(jù)分析。

　　第六章 材料成分分析方法：X射線光電子能量譜(XPS)、俄歇電子能譜、X射線能量色散譜的工作原理及應(yīng)用范圍;XPS 分峰方法。

　　第七章 光譜分析：物質(zhì)與光的相互作用;紫外可見(jiàn)吸收光譜、拉曼光譜、紅外光譜的工作原理及其在材料研究中的作用。比爾定律、拉曼散射、拉曼/紅外活性等相關(guān)重要概念。